000			01533nam a2200241Ia 4500
001			20135
041			_aspa
090			_aNCh44 _bOf2007
110			_aInstituto Nacional de Normalización (Chile) _9242
245		0	_aProcedimientos de muestro para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
260			_aSantiago, Chile : _bINN, _c2007
300			_a96 p.
500			_aEsta norma anula y reemplaza a la Norma NCh44.Of1978 y la NCh2237.Of1999. Esta norma ha sido declarada oficial por resolución exenta No. 110, de fecha 23 de febrero de 2007 y publicada en el Diario oficial del 12 de marzo de 2007.
520			_aLa norma especifica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos. Está indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AQL). Su propósito es estimular al proveedor a través de la presión económica y psicológica de la no aceptación de lotes, para mantener un promedio del proceso como mínimo tan bueno como el AQL especificado. Al mismo tiempo proporciona un límitre superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
650			_aNORMAS TECNICAS _92049
650			_aNORMAS DE CALIDAD _940540
650			_aMUESTREO _943523
650		0	_aCalidad _941139
653			_aMETROLOGIA Y NORMALIZACION
900			_aColección de Normas _b2007-05-09 _cMonografías _dNormas Técnicas
942			_2z _cNOTEC
008			220629s9999 xx 000 0 und d
999			_c9117 _d9117