000 01016nam a2200229Ia 4500
001 33599
041 _aspa
090 _aNCh2238
_bOf1999 ISO2859/2
110 _aInstituto Nacional de Normalización (Chile)
_9242
245 0 _aProcedimientos de muestro para inspección por atributos - Planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ) = Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling plans indexing by limit quality (LQ)
260 _aSantiago, Chile :
_bINN,
_c1999
300 _a27 p.
520 _aNorma que establece planes de muestreo LQ y procedimientos para la inspección por atributos comptabibles con NCh2237.
650 _aNORMAS TECNICAS
_92049
650 _aNORMAS DE CALIDAD
_940540
650 _aMUESTREO
_943523
650 0 _aCalidad
_941139
653 _aMETROLOGIA Y NORMALIZACION
900 _aColección de Normas
_b2014-10-21
_cMonografías
_dNormas Técnicas
942 _2z
_cNOTEC
008 220629s9999 xx 000 0 und d
999 _c19334
_d19334