Procedimientos de muestro para inspección por atributos - Planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ) = Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling plans indexing by limit quality (LQ) 

 - Santiago, Chile :  INN,  1999 
 - 27 p. 
<br/><br/> Norma que establece planes de muestreo LQ y procedimientos para la inspección por atributos comptabibles con NCh2237. 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>NORMAS TECNICAS<br/>NORMAS DE CALIDAD<br/>MUESTREO<br/>Calidad
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>METROLOGIA Y NORMALIZACION