Procedimientos de muestro para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Idioma: Español Detalles de publicación: Santiago, Chile : INN, 2007Descripción: 96 pTema(s): Resumen: La norma especifica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos. Está indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AQL). Su propósito es estimular al proveedor a través de la presión económica y psicológica de la no aceptación de lotes, para mantener un promedio del proceso como mínimo tan bueno como el AQL especificado. Al mismo tiempo proporciona un límitre superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
Normas Técnicas
| Biblioteca actual | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Biblioteca Central | NCh44 Of2007 | c.1 | Disponible | Biblioteca: B0103A | 21519 |
Esta norma anula y reemplaza a la Norma NCh44.Of1978 y la NCh2237.Of1999. Esta norma ha sido declarada oficial por resolución exenta No. 110, de fecha 23 de febrero de 2007 y publicada en el Diario oficial del 12 de marzo de 2007.
La norma especifica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos. Está indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AQL). Su propósito es estimular al proveedor a través de la presión económica y psicológica de la no aceptación de lotes, para mantener un promedio del proceso como mínimo tan bueno como el AQL especificado. Al mismo tiempo proporciona un límitre superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.
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