Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico: Sistema de rastreo láser i-site de Maptek
Idioma: Español Detalles de publicación: : , 2000Descripción: 146-147pTema(s): En: Minería Chilena v.20:no.227(2000:May.)Resumen: Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico, ésta corresponde al sistema de rastreo láser I-Site de Maptek. Se entregan las especificaciones técnicas, las aplicaciones y prueba en terreno
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| Biblioteca actual | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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| Biblioteca Central | v.20:no.227(2000:May.) | Disponible | Biblioteca: B0209B | 11019 |
Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico, ésta corresponde al sistema de rastreo láser I-Site de Maptek. Se entregan las especificaciones técnicas, las aplicaciones y prueba en terreno
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